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LS 13 320 XR 雷射粒徑分布分析儀

大改進，幫助你發現小差異

LS 13 320 XR 採用先進的PIDS 技術，為您提供準確的粒度分佈數據，讓您能夠進行高解析度的測量並擴展動態範圍。LS 13 320 XR 雷射粒徑分布分析儀提供快速、準確的結果，並協助您簡化工作流程以達到理想效率。

產品特色

  • 直接測量範圍在10 nm – 3,500 µm 之間
  • 自動突出顯示合格/不合格結果從而達到更快速的品質控制
  • 增強版軟體簡化了標準測量方法的創建
  • 全新控制標準充分驗證儀器/模組的性能


規格說明

採用專利的 PIDS (偏振散射光)技術進行低角度前向光散射。 應用三種不同波長分析六個不同角度的垂直和水平偏振光。同時符合弗勞恩霍夫(Fraunhofer)和米式(Mie)理論。
  • 光源：衍射: 雷射二極體(785奈米)
    PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters(475, 613 and 900 nm)
  • 粒徑範圍：10 nm~3500 μm ( 乾粉系統模組(DPS）：400 nm-3,500μm  通用液體模組（ULM）：10 nm-2,000μm)
  • 接口：USB
  • 溫度範圍：10-40°C (50–104°F)
  • 尺寸：高：49.53 公分   寬：93.98 公分   深：25.4 公分
  • 重量：23.5 公斤


售後服務

洞見智能提供售後服務，請來電洽詢：
1. 儀器準確度之校正。
2. 儀器零件之保固及維修，並給予專業使用建議，以降低客戶日後量測誤差所引致之風險。
3. 執行第三方公正驗證，為客戶群提供確實可靠的檢測報告。